Axio Vert.A1是一款結(jié)構(gòu)緊湊、大視場觀察的倒置顯微鏡。可用于檢測大而重試樣，廣泛使用先進(jìn)的反差技術(shù)。反射光下,具有明場、ADF高級暗場、偏光、DIC、C-DIC、熒光對比模塊。透射光下，具有明場、偏光和相對比模塊。Axio Vert.A1可滿足您選擇最佳的觀察方式,或者您還可以同時(shí)選擇幾種不同觀察方式以獲得最多的樣品信息。

　　5孔物鏡轉(zhuǎn)盤,并帶有自動(dòng)位置編碼功能。光路管理器用于保存、恢復(fù)和調(diào)取光強(qiáng)值。您可以有效量化組織結(jié)構(gòu),并鑒定您所觀察樣品的特性。這可有效指導(dǎo)產(chǎn)品生產(chǎn)及用于質(zhì)量控制。

　　多物鏡快速成像

　　您需要各種不同的物鏡來滿足您對樣品的觀察。帶有自動(dòng)位置編碼功能的Axio Vert.A1的5孔物鏡轉(zhuǎn)盤可幫助您選擇最佳的放大倍數(shù)。編碼功能可自動(dòng)識別出您所選擇的物鏡,為您節(jié)省時(shí)間，消除誤差。

　　反差對比方法,顯示所有細(xì)節(jié)信息

　　Axio vert.A1具有所有普遍的對比度方法:4位功能轉(zhuǎn)盤可實(shí)現(xiàn)反射光明場、ADF高級暗場、偏光、DIC、C-DIC、熒光對比快速、簡捷的轉(zhuǎn)換,檢測各向異性材料如鎂和鋁。轉(zhuǎn)換到透射光照明，可使用明場、偏光或相對比功能。

　　可重復(fù)的測量和對比

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　　23視場數(shù)保證您第一眼就能觀察到樣品的全貌。十字線測微尺及晶粒度評級板可用于測量和計(jì)數(shù)。另外，Carl Zeiss 的AxioVision軟件會為您提供強(qiáng)大的分析模塊，如晶粒度分析、相分析、層厚分析等。

先進(jìn)的技術(shù)

Eco安全模式

　　在Eco模式下，當(dāng)您停止使用顯微鏡的時(shí)間超過15分鐘時(shí)，設(shè)備就會自動(dòng)關(guān)閉。這樣可延長顯微鏡的使用壽命并節(jié)約能源。您也可以關(guān)閉Eco模式，切換到連續(xù)操作模式。

USB接口增強(qiáng)設(shè)備可靠性

　　由于Axio Vert.A1直接與計(jì)算機(jī)連接,您可以在獲取數(shù)據(jù)的同時(shí)繼續(xù)工作。連接顯微鏡的計(jì)算機(jī),標(biāo)準(zhǔn)配置就可以一—不需額外的驅(qū)動(dòng)程序。

Axio Vert. A1實(shí)際應(yīng)用

　　利用反射光明場相襯法分析蝕刻表面的微觀結(jié)構(gòu)。晶界鑒定、顆粒大小檢測、相和組成成分鑒定。見下圖的染色部分。還可檢測雜質(zhì)和組成成分，如蝕刻前鑄鐵中的石墨。

　　反射光暗場下,檢測機(jī)械表面的斷層帶,如裂紋、氣孔、夾雜物、劃痕。您可精確檢測加工產(chǎn)品的表面質(zhì)量,輕松檢測出切片的晶界。

　　利用偏振襯度分析各向異性材料的組織結(jié)構(gòu),如鎂、鋁、銅和黃銅。在偏光下,晶格取向會顯示出它們的特征色。

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　　微分干涉對比(DIC)方法可探測微小的結(jié)構(gòu)差異、高度差異,無論是自然原因還是人工原因所形成的差異,都會以3D形貌圖像顯示出來，并有一種浮雕結(jié)構(gòu)感。

技術(shù)參數(shù):

操作數(shù)據(jù):

環(huán)境條件